德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem用于高品質成像與高級分析。$n靈活的探測，4步工作流程，高級的分析性能$n將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合，利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。$nSigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配

長久以來，蔡司GeminiSEM場發射掃描電鏡一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質量、易用性和靈活性。蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現1 kV以下的亞納米級分辨。

德國蔡司 GeminiSEM 場發射掃描電子顯微鏡 長久以來，蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓您擁有更佳的圖像質量、易用性和靈活性。蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM兼具出色的成像和分析能力，不依靠浸沒式物鏡依然可以輕松實現1 kV以下的亞納米級分辨