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        德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem

        簡要描述:德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem用于高品質成像與高級分析。
        靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能
        將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。
        Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配

        • 產品型號:Sigma
        • 廠商性質:代理商
        • 更新時間:2022-07-21
        • 訪  問  量:204

        詳細介紹

        品牌其他品牌應用領域化工,農業

        德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem產品介紹:

         

        靈活的探測,4步工作流程,高級的分析性能

        將高級的分析性能與場發射掃描技術相結合,利用成熟的 Gemini 電子光學元件。多種探測器可選:用于顆粒、表面或者納米結構成像。Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間:設置成像與分析步驟,提高效率。
        Sigma 300 性價比高。Sigma 500 裝配有yi流的背散射幾何探測器,可快速方便地實現基礎分析。任何時間,任何樣品均可獲得精準可重復的分析結果。

        纖維,在傷口護理中敷的抗菌藥

        ▲用于清晰成像的靈活探測

        利用先進探測術為您的需求定制 Sigma,表征所有樣品。

        利用 in-lens 雙探測器獲取形貌和成份信息。

        利用新一代的二次探測器,獲取高達50%的信號圖像。在可變壓力模式下利用 Sigma 創新的 C2D 和 可變壓力探測器,在低真空環境下獲取高達85%對比度的銳利的圖像。

        Sigma 的 4 步工作流程節省大量的時間

        ▲自動化加速工作流程

        4步工作流程讓您控制 Sigma 的所有功能。在多用戶環境中,從快速成像和節省培訓首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

        首先,先對樣品進行導航,然后設置成像條件。

        接下來對樣品感興趣的區域進行優化并自動采集圖像。最后使用工作流程的最后一步,將結果可視化。

        ▲高級分析型顯微鏡

        德國蔡司場發射掃描電子顯微鏡sem將掃描電子顯微鏡與基本分析相結合:Sigma yi流的背散射幾何探測器大大提升了分析性能,特別是對電子束敏感的樣品。

        在一半的檢測束流和兩倍的速度條件下獲取分析數據。

        獲益于8.5 mm 短的分析工作距離和35°夾角,獲取完整且無陰影的分析結果。

         

        配件:

        ▲SmartEDX

        為您帶來一體化能譜分析解決方案

        單采用SEM成像技術無法全面了解部件或樣品,研究人員就需要在SEM中采用能譜儀(EDS)來進行顯微分析。通過針對低電壓應用而優化的能譜解決方案,您可以獲得元素化學成分的空間分布信息。得益于:

        優化了常規的顯微分析應用,并且由于氮化硅窗口優秀的透過率,可以探測輕元素的低能X射線。

        工作流程引導的圖形用戶界面極大地改善了易用性,以及多用戶環境中的重復性。完整的服務和系統支持,由蔡司工程師為您的安裝、預防性維護及保修提供一站式服務。

        ▲拉曼成像與掃描電鏡聯用系統

        完全集成化的拉曼成像

        在您的數據中加入拉曼光譜及成像結果,獲得材料更豐富的表征信息。通過擴展蔡司Sigma 300,使其具備共聚焦拉曼成像功能,您能夠獲得樣品中化學指紋信息,從而指認其成分。

        識別分子和晶體結構信息

        可進行3D分析,在需要時可關聯SEM圖像、拉曼面掃描成像和EDS數據。

        完全集成RISE讓您體驗由先進的SEM和拉曼系統帶來的優勢。

         

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